致茂電子 Chroma ATE Inc.

2013 訊息快遞
2013 訊息快遞
致茂提供Turn-Key半導體雷射測試解決方案
2013/08/23

繼之前推出震撼市場的半導體雷射測試解決方案並得到全球Tier1廠商的認可,致茂將再次於2013年中國國際光博會CIOE上為廠商提供更多具價格競爭力及獨特測試優勢的半導體雷射測試產品,並展出整合性的Turn-Key測試解決方案。

半導體雷射在通訊、醫療等方面極具應用性,與人類社會生活密不可分。有鑒於近年來因半導體雷射於雲端, 感測等產業上的應用逐年提升,致茂運用自有精密量測儀器設備搭配自動化測試的經驗與技術,提供雷射製造業界完整的Turn-Key測試解決方案。

在晶圓(Wafer)檢測部分,致茂結合Prober-Station與TEC致冷晶片溫控器,可快速製造-40℃到150℃的環境,並確保在無冷凝的環境下測試雷射光電特性隨溫度變化的狀態。於雷射芯片(Chip)檢測段,致茂將使用HOC(Hand-Over Carrier)共用載具的方式可於無人員接接觸芯片下進行自動化光電特性量測L-I-V曲線與燒機測試的交互測試。而特性檢測(Characterization)上致茂提供的是整合性Turn-Key解決方案,可大幅降低人工需求進而達到客戶降低測試成本的需求並同時確保產品品質;今年致茂也針對TOCAN封裝段的雷射提出新的燒機檢測系統(Burn-in)與自動化光學檢測(AOI),可於最終出貨前進一步檢測出有瑕疵的雷射。

中國國際光電博覽會將於9月4-7日期間舉行,致茂電子於深圳會展中心Hall 1-1115展區盛大展出,誠摯的邀請您蒞臨攤位與我們專業的解說人員面談了解更進一步的資訊。我們相信,您的蒞臨將會有全新的體驗與意想不到的收穫。

雷射二極體測試解決方案