致茂電子 Chroma ATE Inc.

2012 訊息快遞
2012 訊息快遞
致茂滿足您半導體雷射產品測試需求
2012/08/24

致茂光通訊Laser Diode 檢測設備
致茂滿足您半導體雷射產品測試需求

致茂電子為因應光通訊與雲端應用等相關產業逐漸蓬勃發展,將於2012中國國際光電博覽會(CIOE)推出最新開發的半導體雷射測試解決方案。

半導體雷射並非全新產業,但在通訊、醫療等方面極具應用性,與人類社會生活密不可分。有鑒於近年來因半導體雷射於光通訊產業上的應用逐年提升,致茂運用其自動化測試設備上的經驗與技術,提供業界完整半導體雷射自動化燒機測試(Burn-In)自動化特性檢測(Characterization)解決方案。

有別於LED,一顆半導體雷射的價格可能是LED的百倍至萬倍不等,在過去,半導體雷射廠商一直是以人工的方式進行雷射特性的測試。雷射的光譜、電性、溫度特性都需要個別的工作站來完成,不僅在人工或時間都是一大花費,也無法保證待測物在測試的過程中保有完整性。為降低測試成本並提升生產良率,致茂利用共用治具(Carrier-Sharing)與更換治具(Change Kit)的概念,提供整套完整的燒機與特性測試機。未來,操作人員只需要於第一次作業將數十顆或數百顆昂貴的半導體雷射放置於共用治具中,即可於燒機測試機中進行檢測。當完成燒機檢測後,可立即將共用治具取出,直接放入特性測試機中進行光譜、電性與溫度的測試。所有執行過程中的條件(Recipe)都可依照客戶需求事先作設定,並即時監控量測數據。此外,可依照待測物的不同型式與大小更換治具,不需再另購其他系統,更能有效降低成本。

針對面射型雷射(VCSEL),致茂這次提出的全新VCSEL廣範圍精密溫控測試系統,主要應用於VCSEL晶圓檢測,可在半導體雷射晶圓 (wafer) 封裝前進行特性測試與分類,此系統搭載致茂的Prober-Station與TEC溫控平台,可快速製造-40℃到120℃的環境,並確保在無冷凝的環境下測試VCSEL光電特性隨溫度變化的情形。

中國國際光電博覽會將於9月6-9日期間舉行,致茂電子於深圳會展中心Hall 1-1115展區盛大展出,我們相信,您的蒞臨將會有全新的體驗與意想不到的收穫,期待在本年度盛會中與您見面。

聯絡人
蘇沛芃 先生
Tel.: +886-3-3279999 #6112
e-mail: darren@chroma.com.tw

 

 
email Chroma Join Us!