致茂電子 Chroma ATE Inc.

2017 訊息快遞
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致茂電子最新半導體測試解決方案,3月SEMICON China 盛大展出
2017/03/08

致茂電子為精密電子量測儀器、自動化測試系統、智慧製造系統與全方位Turnkey測試及自動化解決方案領導廠商,將於3月SEMICON China 推出最新半導體測試解決方案,以因應IoT晶片市場的蓬勃發展。

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統,擁有最高可達1Gbps的資料速率(data rate)、平行測試更多待測物的能力及符合數位及類比IC的測試應用需求。應用範圍包含微控制器(MCU)、數位音訊(Digital Audio)、數位電視(Digital TV,DTV)、機頂盒(Set-Top Box)、數位信號處理器(DSP)、網路處理器(Network Processor)、現場可程式邏輯門陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)及消費性電子IC應用市場等測試方案。

Chroma 3680 全方位高精度/高效能SoC測試系統
▲ Chroma 3680 全方位高精度/高效能SoC測試系統

Chroma 33010 PXIe Digital IO Card,Chroma除提供傳統之測試系統Chroma 3380D 256通道與Chroma 3380P 512通道外,也在今年正式提供自動測試系統(ATE)功能PXIe 架構之DIO- Model 33010,符合PXI 測試方案發展應用之趨勢及需求,以因應未來更小IC通道及愈趨複雜功能之趨勢,尤其在IoT 及汽車電子 IC測試上, PXI/PXIe架構在半導體測試無論在應用多變和彈性上都有一定優勢。應用範圍包含微控制器(MCU)、微機電(MEMS) 、射頻IC(RF IC) 及電源IC (PMIC) 等測試方案。

Chroma 33010 PXIe Digital IO card
▲ Chroma 33010 PXIe Digital IO card

Chroma 3260C 三溫IC測試分類機具備優異的溫度性能表現,溫度範圍從-40℃~125℃,利用Nitro TEC的技術,做到快速DTC的功能;並可供多組Module Board平行測試,1至6個測試座並可符合多種封裝類型(QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP)。Chroma 3260C可快速更換待測產品,大幅縮短停機時間,提高使用效率及產能。應用範圍為車聯網及雲端相關概念產業IC元件。


▲ Chroma 3260C 三溫IC測試分類機

Chroma 3111迷你桌上型單站測試分類機適用於工程實驗階段系統功能檢測,同時具備終端電性測試能力,支援各種不同類型的封裝晶片,晶片尺寸從 5x5mm 到 45x45mm。Chroma 3111具備遠端網路控制功能,透過軟體設定JEDEC料盤的分配及工程測試,在60cm2 的空間發揮最大的效用以節省時間和成本。


▲ Chroma 3111迷你桌上型單站測試分類機 

Chroma半導體測試設備整合MP5800 射頻(RF) ATE測試專用機,涵蓋6GHz測試範圍,提供4/8 RF Port及120MHz 頻寬。應用範圍包含WiFi/BT/GPS…等IoT應用及RF元件測試( PA/LNA/Converter..等),達到RF/Digital全方位ATE(CP/FT/SLT)測試解決方案。

MP5800 RF ATE測試專用機
▲ MP5800 RF ATE測試專用機 

Chroma半導體測試解決方案亦提供豐富的軟體套件以符合不同測試應用。

2017 SEMICON China (3月14-16日),致茂電子將於上海新國際博覽中心(SNIEC)(攤位號: 3635)展出最新的半導體測試解決方案,我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢,期待在此年度盛會中與您見面。