致茂電子 Chroma ATE Inc.

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Chroma真無線藍芽耳機測試解決方案滿足高階與基礎測試需求
2020/02/19

致茂電子推出真無線藍芽耳機(True Wireless Stereo,以下簡稱TWS)晶片完整測試方案,整合無線RF、MCU測試、數位電路、類比電路,以及音頻混合訊號量測。超高性價比的Chroma 3380測試系統滿足價格敏感的晶片設計商,進階版Chroma 3680測試系統,能提供快速且完整的測試方案,滿足高階高感度的TWS晶片測試需求。

TWS晶片在近年來應用越來越廣泛,從剛開始僅限於安裝在耳機內,處理藍芽與音頻訊號的單純晶片,TWS使用的晶片已經發展到智慧音箱、無線音箱,甚至穿戴裝置都可以共用。也因為功能的急速整合,測試從單純的無線藍芽測試、數位測試與音頻測試,延伸到電源、記憶體、甚至感測器等。

致茂電子半導體測試解決方案在各種半導體測試應用耕耘多年,高度軟體與硬體整合已獲業界肯定,可同時提供價格合理、品質精良的數位與類比測試,Chroma 3380在中國MCU市場更是位居領先地位,除了可以測試Bluetooth RF外,在音頻測試表現上可提供超過90dB的信噪比,一站完成所有的測試需求。而針對高階高感度的產品,Chroma 3680系列可以進行高速訊號測試,提供精準的電壓電流測試,其混合訊號測試更提供超過 110dB的信噪比,加上快速RF訊號連接介面,可更穩定測試高階TWS產品。

詳細產品資訊:

Cost Effective

Chroma 3380

High Performance

Chroma 3680

 Chroma 3380

Chroma 3680

1280 pin MCU Test
100Mhz Logic Pattern
MAWI2 ADDA Test
MP5806 Sub 6Ghz RF
Memory Test Option
MXPMU Cost Effective VI
16 Parallel Sites Testing

2048 pin SoC Test
1Gbps Logic Pattern
HDAVO ADDA Test
HDRF Sub 6Ghz RF
Memory Test Option
HDVI High Precision VI
8 Parallel Sites Testing