致茂電子 Chroma ATE Inc.

測試與校驗服務
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高加速壽命測試服務HALT & HASS

技術資料 :

HALT and HASS in IPC 9592A

HALT Testing Guidelines

HASS/HASA Guideline

Benefits and Costs of Overstress Testing (HALT)

Highly Accelerated Life Testing – Testing With a Different Purpose

 

更多資訊請看 : www.qualmark.com

 

特點:

快速發現的設計及過程限制 評價改進設計餘量 具備統計信息的特性 增強產品的可靠性 較少產品開發時間,降低成本 提供工程技術工具來評估產品的變化

高加速壽命測試是為設計者而設計的程序強化工具,沒有預先確定的限制,新工作台獨特的三層結構減少了熱量的集結,從而大大提高了動態響應。

了解HALT & HASS 測試方法是提高產品可靠性,降低保證成本以及增強客戶滿意度的強有力工具。 Halt一般應用在原型建構階段,Hass應用在生產階段。利用Halt&Hass技術,將產品進行極限應力測試以加快發現問題的速度,在長時間低應力測試下發生的有代表性的故障與短時間高應力測試下發現的問題是相同的。

結合溫度,溫度變化以及多軸的極限振動可以很快地暴露製程的缺陷以及設計的弱點。Halt&Hass技術不像設計驗證測試(DVT)是要證明產品能起到什麼作用,而是要通過應力測試很快地發現產品的缺陷。其關鍵的價值在於能夠發現缺陷以及發現缺陷的速度。現在了解產品設計及製造上所隱含的缺點,可為公司避免未來一些費用較大的保修及可靠性問題的發生。

致茂電子加速壽命測試中心 致茂電子加速壽命測試中心不僅提供最好的可靠性測試設施,而且還提供了專業的HALT & HASS諮詢。 在測試中心,您只需花幾小時或是幾天的時間便可發現在產品發佈後幾週或幾個月才會發現的缺陷,而這些缺陷將直接導致售後服務成本的增加,客戶的不滿意,最終造成公司經濟的損失。 致茂電子加速壽命測試中心提供給客戶最快速也是最先進的測試服務,所有的測試過程皆由資深並擁有豐富測試應用技術經驗的專業工程師負責監控。 目前測試中心己經安裝了QualMark's OVS-2.5 LF和QualMark's OVS-Typhoon 4.0 LF。致茂將以強烈的自信以及豐富的經驗來滿足用戶在高加速壽命測試及應力篩選方面的需求。

主要測試領域 半導體/喇叭/機動組件/軍用電子/網路設備/個人電腦/光纖、光學設備/Vide處理設備/視訊會議設備/監視器/掌上計算機/打印機和標圖器/遠程量測設備/手持式量測設備/電話交換設備 。

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