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Application Notes

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半導體/IC測試解決方案

	33XX VLSI 測試系統>Converter
1	*How to transfer G5510 test pattern (.spt) to 3500 pattern (.pat)?*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
	Soft ware version: CRAFT All Version
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2	*How to transfer G5510 declaration file (.h) and main rogramfile (.t) to 3500 declaration file (.dec) and test plan program (.pln)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
	Soft ware version: CRAFT All Version
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3	*How to transfer TS6700 pattren (.pf) to 3500 (.pat)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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4	*How to transfer TS6700 declaration file (.ddf) to 3500 declaration file (.dec)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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5	*How to transfer TS6700 main program (.tdl) to 3500 plan program (.pln)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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6	*How to transfer V7100 main program (C) to 3360 plan program (.pln)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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7	*How to transfer V7100 pattren (.Q7) to 3360 (.pat)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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8	*How to transfer SC312 declaration file (.dif) to 3503 declaration file (.dec)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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9	*How to Transfer SC312 test pattern (.avf) to 3503 pattern (.pat)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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10	*How to transfer SC312 main program (.tpf) to 3503 plan program (.pln)*
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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11	*How to Transfer V50 test program (.prg and .tim) to 3360 plan program (.pln)**
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
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12	*How to Transfer V50 test pattern (.PTN or .SD) to 3360 pattern (.pat)**
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Converter
	Soft ware version: CRAFT All Version
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	33XX VLSI 測試系統>Load board
1	The Notices of Pogo ring tower load board of Version-3
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Load board
	Soft ware version: 3500 CRAFT
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2	Type-B Pogo Ring Tower Load Board Layout of version-3
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Load board
	Soft ware version: 3500 CRAFT
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3	Type-B Pogo Ring Tower Load Board Layout of version-4
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Load board
	Soft ware version: 3500 CRAFT
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4	The difference between Type-B Pogo Ring Tower Load Board Layout of version-3 and version-4
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Load board
	Soft ware version: 3500 CRAFT
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5	Contect prober card for B_type loadboard
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Load board
	Soft ware version: 3500 CRAFT
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6	Chroma3503 for SC312 轉接板，trace impedance test and User relay control signal check
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Load board
	Soft ware version: 3503 CRAFT
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7	Type-C Pogo Ring Tower Load Board layout of version-A
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Load board
	Soft ware version: 3502 CRAFT
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	33XX VLSI 測試系統>Timming control
1	How to use Window strobe in Chroma 350X series tester?
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Timming control
	Soft ware version: 350X CRAFT
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2	RZ/RO format 之marker DT0與DT1在使用上的限制
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Timming control
	Soft ware version: 350X CRAFT
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	33XX VLSI 測試系統>Micro_instruction
1	Timing restriction of the micro instruction “IMATCH”
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Micro_instruction
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.4
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2	JCONT fail 時 CRAFT的反應
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Micro_instruction
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3	When use SPM memory the limitation of micro-instruction JMP、JSR、JNZi(i=0~3).
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Micro_instruction
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	33XX VLSI 測試系統>Statement
1	Craft statement ”PARAL_INC” ― automatic allocation of PMU to a PIN_GROUP
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: CRAFT All Version
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2	Craft statement “SOCKET_SET”― execute test plan on one specific SITE in an multi_site environment
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: CRAFT All Version
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3	SOCKET_INC Statement hardware action modifies (3500 CRAFT 2.0.4 Patch 3)
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7
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4	The notice of using “FREE RUN CLK(FCLK)”.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: 3500 CRAFT 1.2.8
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5	How to use the DPS/PREF UIPP mode.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: CRAFT All Version
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6	How to use “FAIL_REJUDGE” in Chroma C350X series tester system ?
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
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7	How to use POWER_DOWN_FAIL_SITE” in Chroma 350X series test system.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: CRAFT All Version
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8	How to use the raw data catch statement.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.5↑
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9	How to program the SET_LEVEL and MARKN for a better solution of the multi-site test time?
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.4
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10	3360P for only executing O/S Test have some hardware circuit modification.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: PTRLY Only, 3360 CRAFT 1.0.6
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11	MEAS_LCD_DGT and MEAS_LCD_DGT_n return data arrangement .
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: 3520 CRAFT 1.0.0
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12	How to do the trigger delay timing when use LCDT in 3520?
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: 3520 CRAFT 1.0.0
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
13	"How to programming Reduced Swing Differential Signaling (RSDS) function in Chroma 3360/3520."
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Statement
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7
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	33XX VLSI 測試系統>Utility
1	How to execute MIB Diagnosis
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	MIB的diagnosis測試，測試MIB所需要用到的機台為3360p2、接線cable一組、 EZDPS*4、短路片治具一組及MIB的支撐架，3360p2的測試機台上面需要架上一塊 LXMLB 板子，如圖(2)(3)所示。接著將MIB(圖(1))接線於LXMLB上，接線方式請依照色塊來連接，包括五條coaxial cable(綠黃藍白)，兩條flat cable(黑棕)，一條D-sub 50 cable(紅)。
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2	Logic_Waveform setup
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: CRAFT All Version
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3	"CONTACT TEST" utility for prober setup
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: CRAFT All Version
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4	Contact Test Function Generator
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: CRAFT All Version
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5	Changes about TTL model: 1 EOT.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: 3500 CRAFT 1.2.8
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6	Identify CRAFT version
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: CRAFT All Version
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7	The difference between Chroma3500 and Chroma3502
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: 3500 and 3502
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8	CRAFT如何輸出測試結果(TDO files / STDF files / Summary Report) ?
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: CRAFT All Version
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9	How to use Utility of Op-BOX?
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Utility
	Soft ware version: CRAFT All Version
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	33XX VLSI 測試系統>Device Application
1	Select the ROM code to be compiled and loaded in the START_UP item.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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2	Use VECTOR_EXTRACT statement to get learn mode pattern from different ROM
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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3	*Introduce how to use ALPG (including .DEC, .PAT, .PLN).**
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7
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4	[ALPG] Example of several well-know, traditional memory test.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7
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5	How to use “READ_PROBER_XY"
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7
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6	Multi-Site program coding notices
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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7	CRAFT scope waveform與示波器所measured waveform之差異說明
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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8	LCD board Settling level characteristic
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3500 CRAFT 1.2.0
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9	How to declare relay board signal of slot3 in dec file
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.4
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10	How to transfer 350x NORM-mode pattern to DBL-mode(MUX-mode) pattern
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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11	How to program DBL mode (MUX mode) pattern
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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12	The 2X/3X/4X/6X Timing and Marker limitation.
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3520,3360 CRAFT 1.0.0 ↑
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13	The instruction of scan function
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7
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14	How to debug scan function?
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
15	“IMATCH” 的sample 實驗
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
16	"The limitation of LCD pin pattern convert rate( for novatek use only) "
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
17	"Descript the limitation of Craft 3360N to prevent error usage
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: for novatek use only)" (CRAFT All Version
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18	"避免小卡片接近禁區有進入禁區的可能性"
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: CRAFT All Version
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19	"在Multi-Sites的情況下，如何讓同一根Pin的任意多個Sites同時作用? 或是在定義好的PIN_GROUP中，只讓任意Pins作用?"
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 CRAFT 1.0.7↑
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
20	"64 Pins的Coaxial Cable不能接在3360P2 CABLE MOUNT LOAD BOARD上的TBUS及LXPG2/STDPS的Connector(牛角)位置。"
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360P2 CRAFT2.0.1
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
21	"STPHI接收訊號之雜訊(Noise)過大時，TTL通訊品質的影響。"
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Device Application
	Soft ware version: 3360 type series
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,

	33XX VLSI 測試系統>Universul DUT Board
1	Universal Socket Dut Board Blank
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>Universul DUT Board
	Soft ware version: CRAFT 3360
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,

	33XX VLSI 測試系統>AD/DA , Capture memory Application
1	使用Capture memory超過其log memory深度所造成的問題。
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>AD/DA , Capture memory Application
	Soft ware version: CRAFT 3360
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
2	使用外部電路來克服 capture Memory 最大64K使用限制
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>AD/DA , Capture memory Application
	Soft ware version: CRAFT 3360
	Download
	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
3	AWI 弦波相位不連續的現象。
	半導體/IC測試解決方案 > 33XX VLSI 測試系統>AD/DA , Capture memory Application
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	Product:: 3360-P VLSI 測試系統, 3360 VLSI 測試系統, 3360-D VLSI 測試系統,
4	Delay error in ADC動態測試
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