Model 3360-P VLSI 測試系統
Bridging Design To Production


主 要 特 色
  • 50 MHz 測試頻率
  • 256 logic I/O pins
  • 8~16 M Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA, and LCD)
  • 平行測試可達 32 devices
  • Real parallel Trim/Match 功能
  • 時序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
  • 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10, J750, ITS9K, TS670, ND1)
  • AD/DA 卡 選配 (16 ~24bit)
  • SCAN 測試 選配 (512M)
  • ALPG 測試 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
VLSI 測試系統



Application Note 詳細規格 常見問題

The Full Functions - Logic, LCD, LED, ADDA, Power, ALPG, SCAN,Match... etc.


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3360-P VLSI 測試系統
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