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半導體/IC測試解決方案
VLSI測試系統
SoC測試系統
LCD 驅動 IC 測試系統
自動化系統功能測試機 (ASFT)
IC測試分類機 (IC Test Handler)
Model 3360-P VLSI 測試系統
Bridging Design To Production

主 要 特 色 上一頁 | 回清單頁 | 下一頁
  • 50 MHz 測試頻率
  • 256 logic I/O pins
  • 8~16 M Pattern 記憶體
  • 彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA, and LCD)
  • 平行測試可達 32 devices
  • Real parallel Trim/Match 功能
  • 時序頻率測試單位 Time & Frequency Measurement Unit (TFMU)
  • 測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, E320, SC312, D10, J750, ITS9K, TS670, ND1)
  • AD/DA 卡 選配 (16 ~24bit)
  • SCAN 測試 選配 (512M)
  • ALPG 測試 選配供記憶體用
  • STDF 工具支援
  • 人性化 Windows XP 操作環境
  • CRAFT C/C++ 程式語言
VLSI 測試系統

加入詢價車

Application Note 詳細規格 常見問題

2009 所有3360 , 3360-P, 3360-D Training course schedule

  • 最多 32 DUTS 同時平行測試功能
  • 提供所有類型IC最具彈性的硬體架構
  • 支援pattern/測試程式轉檔工具軟體

DH (DESIGN HOUSE, IC 設計公司)

  • 最佳的實驗室測試機台
  • 最經濟實惠的全功能測試機台
  • 可連結工程及進行量產

TH (TESTING HOUSE, IC 測試公司)

  • 最經濟實惠的全功能生產測試機台
  • 最多支援 32 DUTS 平行測試
  • 很小的佔地面積(Very small footprint)
  • 高效能/低成本的測試機台

生產測試公用程式
Test Production Utility

  • 生產識別碼 ID 公用程式 (Production ID Utility)
  • 測試摘要(Test Summary)
  • 資料登錄(Data Log)
  • 晶圓對應器(Wafer Mapper)
  • 接點測試(Contact Test)
  • IC測試板管理(Load board Management)
  • 直方圖公用程式(Histogram Utility)
  • Op 盒(Op Box)

工程師應用軟體
Engineer Application Utility

  • SHMOO Plot
  • 測試條件監視器(Test Condition Monitor)
  • 資料登錄(Data Log)
  • Plan 除錯器(Plan Debugger)
  • Pattern 編輯器(Pattern Editor)
  • 邏輯波形(Logic Waveform)
  • 示波器波形(Scope Waveform)
  • Plan 定序器(Plan Sequencer)

ATE 維修公用程式
ATE Maintenance Utility

  • 生產識別碼 ID 公用程式(Production ID Utility)
  • GBIP / TTL
  • 維修工具(Maintenance Tools)
  • Op 盒(Op Box)
  • 接點測試(Contact Test)

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3360-P VLSI 測試系統
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