致茂電子 Chroma ATE Inc.

微型晶片電感生產測試
微型晶片電感生產測試

繞線元件脈衝測試器 Model 19301A

CE Mark
主要特色:
  • 高低感量測試應用(0.1μH~100μH)
  • 10V~1000V脈衝測試電壓,0.25V測量解析度
  • 高速測試最快18mS(Pulse 1.0 ; for ACQ)
  • 具備電感測量接觸檢查功能
  • 具備電感差異電壓補償功能
  • 脈衝測試高取樣率(200MHz),10bits
  • 崩潰電壓分析功能
  • 低電壓量測檔位,提高波形分析靈敏度(25V/50V/100V/200V/400V/800V/1000V)
  • 繁中/ 簡中/ 英文操作介面
  • USB波形儲存與畫面擷取功能
  • 圖形化彩色顯示
  • 標準LAN、USB、RS232 介面

Chroma 19301A 為繞線元件脈衝測試器,結合 了高低感量測試技術應用,擁有1000Vdc脈衝電 壓與200MHz高速取樣率,可提供0.1uH~100uH 大範圍感量產品測試滿足絕大部份功率電感 測試需求,擁有波形面積比較(AREA SIZE)、 波形面積差比較(DIFFERENTIAL AREA)、波 形顫動偵測(FLUTTER)、波形二階微分偵測 (LAPLACIAN)、波峰降比偵測(ΔPEAK RATIO)/ 波峰比偵測(PEAK RATIO)及共振波面積比(Δ RESONANT AREA)等判定方法,可有效檢測線 圈自體絕緣不良。

繞線元件於生產檢測包含電氣特性、電氣安規耐 壓進行測試,而線圈之自體絕緣不良通常是造 成線圈於使用環境中發生層間短路、出腳短路 之根源。其形成原因可能源於初始設計不良、 molding加工製程不良,或絕緣材料之劣化等所 引起,故加入線圈層間短路測試有其必要性。

Chroma 19301A 為針對繞線元件測試需求所設 計,利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與 待測線圈形成RLC並聯諧振,由振盪之衰減波形,透過高速且精密的取樣處理分析技術,可檢 驗出線圈自體之絕緣不良,提供功率電感元件進 行繞線品質及磁芯之耐壓測試,讓元件生產廠商 及使用者能更有效的為產品品質把關。

Chroma 19301A 應用於低感量繞線元件測試, 最小感量可達0.1uH,針對低感量測試特性提供 四線式測量、接觸檢查功能、電感檢查與電壓補 償功能,可避免因待測物感量變化大或配線等效 電感而造成測試電壓誤差大,為低感量繞線元件 脈衝測試最佳利器。

Chroma 19301A 於自動化生產上應用,擁有超 高速測量速度有效縮短測試時間提升生產效率, 且電壓補償功能改善了自動化機台配線等效電感 之影響。

全新的人機操作介面,整合圖形化彩色顯示並提 供畫面擷取功能,透過前面板USB儲存波形,不 僅適用於生產現場,更可應用於研發、品保單位 使用進行樣品分析比對,大幅提升操作便利性。

產品應用

高低感量產品測試

Chroma 19301A 除了低感量產品測試技術外,也同時涵蓋到較高感量產品測試應用,可從0.1uH ~ 100uH 。於測試初始進行樣品取樣時,透過內部電 感量測量功能得知待測物感量大小,自動切換到合適檔位進行測試(切換點可設定),使待測物在適當波形下進行比對測量,對使用者操作來說是相當 便利的一項功能。單一台層間短路測試器即結合了高低感量產品測試應用,客戶於生產線上進行產品更換時可省略設備更換時間,不僅縮短了產品換 線工時同時也降低工廠設備負擔,有助於工廠端生產管理也替客戶節省設備資本支出之成本。

崩潰電壓分析 (B.D.V - Breakdown Voltage)

Chroma 19301A 具有崩潰電壓分析功能,設定起始電壓與結束電壓及電壓爬升率,利用電壓爬升過程偵測波形面積比(Area SIZE) 、二階微分偵測 (Laplacian) 及波峰比偵測(PEAK RATIO)判定是否超過設定值,測試出線圈可承受耐電壓強度,藉由這些功能,研究人員可以對產品進行分析與研究,針 對線圈較弱的地方做改善。

劣化點分析(Deterioration Point Analysis)

在IWT BDV Test模式下,利用波峰比的容許範圍來判定待測物是否過度劣化。亦可使用數據來用於分析待測物的劣化電壓點/崩潰電壓點。


劣化點分析示意圖

Pause 暫停功能

在IWT BDV Test模式下,操作者可開啟Pause(暫停功能) 。此功能會使19301A每按 一次[START]鍵只做一個step的測試,在每一個Step測試完後暫停至下一個step直 到[START]鍵再次被操作者按下。操作者可以利用暫停功能,在暫停時,移動待測 物去做其它分析測試,然後再回來繼續下一個step的測試。

Screenshot 擷取畫面功能

操作者可以利用快捷鍵快速擷取操作當下螢幕上所顯示的畫面, 螢幕截圖的畫面 將會快速儲存於插置在19301A上的USB 隨身硬碟(USB flash drive)。

Export 資料匯出功能

操作者可以利用Export功能將每一次測試的數據結果匯出並儲存於插置在19301A 上的USB 隨身硬碟(USB flash drive)。操作者亦可針對每一次的測試結果進行數據 分析。儲存檔案格式為CSV(Comma Separated Values)。

高速自動化測試應用

低感量電感應用於智慧型手機或平板電腦等3C產品,產品外觀尺寸趨向輕薄短小設計,電感於生產上也採用全自動化測包機進行生產,其自動化機 台產速相當高,因此產品生產應用需搭配高速測量設備才能滿足生產條件。為了滿足高速自動化測試應用,Chroma 19301A具有超高速測量功能及 雙同軸線四線測量方式降低配線長度之影響,可直接搭配層測自動化機上應用,為客戶自動化生產帶來更大效益。測試速度提升至最快可達18ms, 可大幅提升自動化的產量。

SMD Power Choke 測試治具

低感量Power Choke產品體積小,為了使層間短路測試操作上能更加便利, Chroma 開發專用之SMD Power Choke四端測試治具,可搭配19301A之電感差異自 動電壓補償功能特點應用,為產品開發或品保人員帶來更為方便進行測試提高測 試效率。


SMD Power Choke測試治具(A193001)